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A9000 FXnano-AD納米大顆粒計數器的集聚光束光阻技術（Focused Light Obscuration）是在傳統(tǒng)單LE光阻傳感器的單顆粒光學傳感技術的基礎上加入了FXnano傳感器。雙傳感器同時運行的情況下，檢測下限由原來的0.5μm下探至0.15μm，使得該儀器在大顆粒檢測領域的應用更加的廣泛。

納米大顆粒計數器集原樣進樣檢測、自動稀釋等全自動檢測功能于一身，為用戶提供可方便、快捷、高效、可靠的粒徑分析。FX系列可以測試計數到150nm,濃度高達10million個/mL的樣品。可以滿足蛋白質聚集和高濃度slurry的測試要求，是PSSZ全能性的顆粒計數器系列產品。

納米粒度儀，顆粒計數器，不溶性微粒檢測儀，在線粒度檢測儀，高壓微射流均質機，Zeta電位與粒徑分析儀，大乳粒分析儀，粒度儀，激光粒度儀，納米激光粒度儀，美國PSS 顆粒計數器，不溶性微粒檢測儀

BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

BeNano 180 納米粒度儀是采用背向散射技術用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統(tǒng)。它基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在背向 173°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關器進行自相關運算得出樣品的自相曲線，結合數學方法就可以得到顆粒的擴散系數，進一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結果

BeNano 180 Pro 納米粒度分析儀是 BeNano 180 + BeNano 90 二合一的光學檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向 173°和經典的 90°動態(tài)光散射 DLS 和靜態(tài)光散射技術 SLS，可以準確的檢測各種濃度樣品的粒徑及粒徑分布，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。雙角度結合測量兼顧高低濃度樣品，還具有檢測極微量樣品的能力。